BZ537Nx SAM/SIM 卡测试板 - 内嵌 M537a 芯片

 
 
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品牌 圆志
产品品牌 圆志(圆志科信)
模块类型 嵌入式读卡芯片
过期 长期有效
更新 2026-11-03 15:31
 
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北京圆志科信电子科技有限公司

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  • 北京
  • 上次登录 11-03 15:30 •
  • 王文志 (先生)  
详细说明
 Z537Nx SAM/SIM 卡测试板是圆志科信专为 M537a 芯片配套推出的接触式卡片调试验证底板,板载 M537a 多通道 SAM 卡读写芯片、SAM/SIM 卡座以及串口外围电路,客户拿到测试板即可直接开展 PSAM、ESAM、SIM 等接触式 CPU 卡读写测试,省去客户自行设计外围硬件电路的工作量,缩短产品研发周期。

本测试板严格遵循 ISO7816 国际标准协议,支持 T=0、T=1 卡片传输协议,兼容多种波特率,自带卡片在位检测功能,实时监测卡片插拔状态,减少通讯异常。采用 UART 串口和上位机、主控 MCU 通信,支持 APDU 指令交互,开发者可以方便地完成卡片复位、数据读写、密钥安全认证调试。

原厂配套资源齐全,提供 C 语言开发例程、硬件原理图、上位机调试工具,研发人员可以快速测试芯片读写性能、调试安全认证逻辑。产品抗干扰性能优异,宽温稳定,适用于地铁闸机、门禁一卡通、充电桩、物联网安全终端等项目前期硬件方案验证。支持项目定制调试,原厂可提供技术对接服务,批量供货稳定,助力安全识别项目快速落地。

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